Bruker Dimension   lcon"原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇，其測試功能*，操作簡便易行。齊集 Dimension系統(tǒng)數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業(yè)領域的設備需求， Dimension lcon進行了全面革新。全新的系統(tǒng)設計，實現了的低漂移和低噪音水平?，F在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。

┃ 設備特點

• 空間分辨率下的完備表面表征 

采用大樣品臺的 Dimension Icon AFM 幫助提升了原子力顯微鏡技術和材料科學領域的發(fā)展，在世界范圍內已有超過千篇的科研文獻發(fā)表。在此平臺上集成了 30多年來原子力顯微鏡的技術，為納米力學、電學、電化學研究提供了特制的表征技術。您會從中獲得商用 AFM 設備的性能表現，進展，異的測量重復性和操作簡便性

• 納米力學性質定量分析應用 

Dimension Icon 平臺的納米力學套裝提供一系列完整的快速定量表征材料納米力學性質的功能模式，適用樣品涵蓋了軟且粘的凝膠和復合材料樣品到堅硬的金屬和陶瓷材料。 納米力學套裝包含了 AFM 納米力學測量發(fā)展歷程中的多種模式，包括布魯克推出的革命性的 AFM-nDMA 模式，它性地將納米力學測試結果與傳統(tǒng) DMA 測試相結合

• 多維納米電學表征

Dimension Icon 的納米電學套裝包含了的納米電學測量模式組合。對比于接觸模式下的電學測量模式，布魯克的 PeakForce TUNA  和 PeakForce KPFM  模式將電學性質和力學性質相關聯起來，拓展了可研究材料的范圍，也有了顯著的論文發(fā)表記錄?，F今，布魯克的 DataCube 模式更提供了圖像上每個像素點上的多維度電學譜線，并在單次測量中同步獲得樣品的電學和力學性質

• 具有商用分辨率的掃描電化學顯微鏡

在 Dimension ICON AFM 上搭載納米電化學模塊（Nano EC），可以為電化學反應的實時定量分析提供可靠地測量方法。利用 EC-AFM 和 PeakForce SECM  模塊，可實現在電化學池中進行原位的形貌掃描，并且適用于在化學溶劑中（包括揮發(fā)性溶液）長時間原位電極反應研究